การศึกษาสภาวะการทำงานที่เหมาะสมสำหรับการวิเคราะห์แร่ซิลิเกตด้วยเครื่องอิเล็กตรอน ไมโครโพรบ (EPMA)
คำสำคัญ:
แร่ซิลิเกต, การวิเคราะห์เชิงปริมาณ, วัสดุอ้างอิงมาตรฐาน, เครื่องอิเล็กตรอนไมโครโพรบบทคัดย่อ
การศึกษานี้มีวัตถุประสงค์เพื่อศึกษาสภาวะการทำงานที่เหมาะสมสำหรับการวิเคราะห์องค์ประกอบหลักของแร่ซิลิเกต ซึ่งประกอบด้วย โซเดียมออกไซด์ อะลูมิเนียมออกไซด์ เหล็ก (II) ออกไซด์ แคลเซียมออกไซด์ โพแทสเซียมออกไซด์ ฟอสฟอรัส (V) ออกไซด์ ไททาเนียมไดออกไซด์ แมกนีเซียมออกไซด์ ซิลิกาออกไซด์ และ แมงกานีสไดออกไซด์ โดยกำหนดตัวแปรสภาวะการทำงาน ที่ ค่ากระแสคือ 25 นาโนแอมป์ ค่าแรงดันไฟฟ้าคือ 15 และ 20 กิโลโวลต์ ค่าเวลาในการวัดคือ 10 15 20 และ 30 วินาที ค่าเวลาพื้นหลังคือ 5 และ 10 วินาที จากผลการศึกษาพบว่าอัตราส่วนที่เหมาะสมของค่า ค่าเวลาในการวัด : ค่าเวลาพื้นหลัง ของโซเดียมออกไซด์ และ อะลูมิเนียมออกไซด์ เหล็ก (II) ออกไซด์ คือ 10:5 วินาที เหล็ก (II) ออกไซด์ แคลเซียมออกไซด์ โพแทสเซียมออกไซด์ คือ 10:10 วินาที ฟอสฟอรัส (V) ออกไซด์ ไททาเนียมไดออกไซด์ แมกนีเซียมออกไซด์ ซิลิกาออกไซด์ แมงกานีสไดออกไซด์ คือ 10:15 วินาที โดยเมื่อนำสภาวะที่เหมาะสมนี้มาวิเคราะห์เปรียบเทียบกับวัสดุอ้างอิงมาตรฐาน ผลการวิเคราะห์มีความคลาดเคลื่อนน้อยกว่า 1% ซึ่งแสดงให้เห็นว่าสภาวะใหม่ช่วยปรับปรุงประสิทธิภาพการตรวจวัดของเครื่องมือได้ดีกว่าสภาวะเดิมที่ใช้ในการวิเคราะห์
เอกสารอ้างอิง
Batanova, V. G., Sobolev, A. V., & Magnin, V. (2018). Trace element analysis by EPMA in geosciences: Detection limit, precision and accuracy. IOP Conference Series: Materials Science and Engineering, 304, 012001.
Bonetto, R., Castellano, G., & Trincavelli, J. (2001). Optimization of parameters in electron probe microanalysis. X-Ray Spectrometry, 30(5), 313–319.
Carpenter, P. K., & Vicenzi, E. P. (2017). Use of mineral reference standards in EPMA: Instrumental calibration, standards comparison, and quality control. Microscopy and Microanalysis, 23(S1), 496-497.
Donovan, J. J., & Tingle, T. N. (1996). An improved mean atomic number background correction for quantitative microanalysis. Microscopy and Microanalysis, 2(1), 1–7.
Donovan, J. J., Singer, J. W., & Armstrong, J. T. (2016). A new EPMA method for fast trace element analysis in simple matrices. American Mineralogist, 101(8), 1839–1853.
Geller, J. D., & Engle, P. D. (2002). Sample preparation for electron probe microanalysis: Pushing the limits. Journal of Research of the National Institute of Standards and Technology, 107(6), 627–638.
Goldstein, J. I., Newbury, D. E., Michael, J. R., Ritchie, N. W., Scott, J. H., & Joy, D. C. (2017). Scanning electron microscopy and X-ray microanalysis (4th ed.). Springer.
JEOL. (n.d.). EPMA (Electron Probe Microanalyzer). https://th.jeol.com/products/science/epma.php
Reed, S. J. B. (2000). Quantitative trace analysis by wavelength-dispersive EPMA. Mikrochim Acta, 132, 145-151.
Reed, S. J. B. (2005). Electron microprobe analysis and scanning electron microscopy in geology (2nd ed.). Cambridge University Press.
Vaggelli, G., Olmi, F., & Conticelli, S. (1999). Quantitative electron microprobe analysis of reference silicate mineral and glass samples. Acta Vulcanologica, 11(2), 297-303.
Zhao, D., Zhang, Y., & Essene, E. J. (2015). Electron probe microanalysis and microscopy: Principles and applications in characterization of mineral inclusions in chromite from diamond deposit. Ore Geology Reviews, 65(4), 733-748.
ดาวน์โหลด
เผยแพร่แล้ว
รูปแบบการอ้างอิง
ฉบับ
ประเภทบทความ
หมวดหมู่
สัญญาอนุญาต
ลิขสิทธิ์ (c) 2025 วารสารวิชาการ ปขมท.
อนุญาตภายใต้เงื่อนไข Creative Commons Attribution-NonCommercial-NoDerivatives 4.0 International License.
